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表面粗糙度轮廓测量仪


MARSURF-XC2

MARSURF XC 2 MIT CD 120轮廓测量站是精密轮廓测量入门之选 测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法,快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时,它还能提供安全而可靠的结果。 利用相关元件,更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。

产品特点

1、密码保护用户访问权限,避免不当使用
2、以多年经验为基础的出色校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
3、稳定、坚固的测头
4、平滑运行,稳定而准确的驱动装置
5、根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
6、高定位精度
7、测杆固定技术,防碰撞保护

MARSURF-XC2表面粗糙度轮廓仪的应用:
1.机器建造:轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
2.生产领域最需要的测量:部分自动流程中的轮廓测量
3.汽车业:转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
4.医疗:髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量,医用螺丝的轮廓测量,种植牙的轮廓测量

技术参数

1、接触速度:(Z 方向)0.1 至 1 mm/s
2、测杆长度:175 mm, 350 mm
3、测量速度(文本):0.2 mm/s 至 4 mm/s
4、针尖半径:25 μm
5、扫描长度末尾(X 方向):120 mm
6、分辨率:Z 方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm
7、扫描长度开始(X 方向):0.2 mm
8、取样角:在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
9、定位速度(文本):X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
10、导块偏差:< 1 μm(超过 120 mm)
11、测量范围 mm:(Z 方向)50 mm
12、扫描长度(文本):0.2 mm 至 120 mm
13、测量力 (N):1 mN 至 120 mN

MARSURF-XC2表面粗糙度轮廓仪附件:

可选:
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳,V 形块
设备工作台
软件选项:
DXF 导入选项
相切元素选项
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
运输:
MarSurf XC 2 包含计算机、MidRange Standard、MarSurf XC 2 软件、Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf CD 120 驱动装置
MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
校准套件
MCP 23 手动控制面板
CT 120 XY 工作台包含旋转调整

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