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表面粗糙度轮廓仪


MARSURF-XCR20

MARSURF XCR 20 粗糙度和轮廓测量站 在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓 这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和 轮廓测量。

产品特点

根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
节省空间型设计:两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱
一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和极高的分辨率
只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量

技术参数

1.接触速度(Z 方向):0.1 至 1 mm/s
2.测杆长度:175 mm, 350 mm
3.测量速度(文本):0.2 mm/s 至 4 mm/s
4.针尖半径:25 μm
5.扫描长度末尾(X 方向):200 mm
6.分辨率:Z 方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm
7.扫描长度开始(X 方向):0.2 mm
8.取样角:在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
9.定位速度(文本):X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s;Z 方向:0.2 至 10 mm/s
10.导块偏差:< 1 μm(200 mm 以上)
11.测量范围 mm:(in Z) 50 mm;MFW 250: ±25 μm,±250 μm,(最高 ±750 μm);±1000 μin,±10,000 μin(最高 ±30,000 μm)
12.采样长度数量符合 ISO/JIS:1 至 50(默认:5)
13.测量力 (N):1 mN 至 120 mN 左右(可在 MarSurf XC 20 中设置)
14.测量原则:探针法
15.扫描长度(文本):自动;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸),测量至挡块,可变
16.输入:R 测头,MFW 250;光学测头 Focodyn*、LS 1*、LS 10*(*仅结合 PGK 或 GD 120 CNC 驱动装置)

MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪应用

1.机器建造:轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
2.生产领域最需要的测量:部分自动流程中的轮廓测量
3.汽车业:转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
4.医疗:髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量,医用螺丝的轮廓测量,种植牙的轮廓测量

MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪附件

可选:
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳,V 形块
设备工作台
软件选项:
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪版本:
结合精密驱动和测头系统 LD 130 / 260
结合测量立柱 ST 500 或 ST 750
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪货运:
MarSurf XC 20 包含计算机、MidRange Standard 包括 XC 20 软件和 Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf PCV 200 驱动单元
MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
校准套件
MCP 23 手动控制面板
CT 300 XY 工作台

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